PENENTUAN UKURAN BUTIR KRISTAL CuCr0,98Ni0,02O2 DENGAN MENGGUNAKAN X-RAY DIFRACTION (XRD) DAN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (SEM)

Abstract

Telah dilakukan pengukuran ukuran butir Kristal CuCr0,98Ni0,02O2 dengan menggunakan persamaan Scherer dan analisa langsung menggunakan Scanning Electron Microscope (SEM). Kristal CuCr0,98Ni0,02O2 disintesis dengan menggunakan metode solid state reaction.  Untuk dapat mendapatkan data menggunakan persamaan Scherer, sampel harus terlebih dahulu dikarakterisasi menggunakan X-Ray Difraction (XRD). Hasil penghitungan menggunakan persamaan Scherer menunjukkan ukuran butiran Kristal sebesar (0,113 ± 0,015) µm dengan ralat relatif sebesar 13,2 %. Sedangkan pengukuran secara langsung menggunakan SEM menunjukkan ukuran butir Kristal sebesar (1,08 ± 0,23) µm dengan ralat relatif sebesar 21 %. Perbedaan hasil penghitungan dengan hasil pengukuran menggunakan SEM disebabkan karena morfologi lapisan. Morfologi kristal yang dihasilkan oleh scanning berkas elektron sekunder pada SEM memungkinkan untuk mendapatkan perbesaran gambar yang cukup sehingga dapat dilakukan pengukuran secara langsung. Sedangkan penghitungan ukuran butir Kristal CuCr0,98Ni0,02O2 menggunakan  persamaan Scherer berdasarkan prinsip difraksi sinar X dengan jarak antar celahnya adalah jarak antar atom pada Kristal sehingga untuk mendapatkan data ukuran butir Kristal menggunakan persamaan Scherer sampel harus terlebih dahulu dikarakterisasi menggunakan XRD. Selain itu, karena dilakukan secara langsung pengukuran hasil karakterisasi menggunakan SEM bukan mengukur ukuran butir Kristal melainkan ukuran partikel.