PENENTUAN UKURAN BUTIR KRISTAL CuCr0,98Ni0,02O2 DENGAN MENGGUNAKAN X-RAY DIFRACTION (XRD) DAN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (SEM)

Lalu A. Didik

Abstract

Telah dilakukan pengukuran ukuran butir Kristal CuCr0,98Ni0,02O2 dengan menggunakan persamaan Scherer dan analisa langsung menggunakan Scanning Electron Microscope (SEM). Kristal CuCr0,98Ni0,02O2 disintesis dengan menggunakan metode solid state reaction.  Untuk dapat mendapatkan data menggunakan persamaan Scherer, sampel harus terlebih dahulu dikarakterisasi menggunakan X-Ray Difraction (XRD). Hasil penghitungan menggunakan persamaan Scherer menunjukkan ukuran butiran Kristal sebesar (0,113 ± 0,015) µm dengan ralat relatif sebesar 13,2 %. Sedangkan pengukuran secara langsung menggunakan SEM menunjukkan ukuran butir Kristal sebesar (1,08 ± 0,23) µm dengan ralat relatif sebesar 21 %. Perbedaan hasil penghitungan dengan hasil pengukuran menggunakan SEM disebabkan karena morfologi lapisan. Morfologi kristal yang dihasilkan oleh scanning berkas elektron sekunder pada SEM memungkinkan untuk mendapatkan perbesaran gambar yang cukup sehingga dapat dilakukan pengukuran secara langsung. Sedangkan penghitungan ukuran butir Kristal CuCr0,98Ni0,02O2 menggunakan  persamaan Scherer berdasarkan prinsip difraksi sinar X dengan jarak antar celahnya adalah jarak antar atom pada Kristal sehingga untuk mendapatkan data ukuran butir Kristal menggunakan persamaan Scherer sampel harus terlebih dahulu dikarakterisasi menggunakan XRD. Selain itu, karena dilakukan secara langsung pengukuran hasil karakterisasi menggunakan SEM bukan mengukur ukuran butir Kristal melainkan ukuran partikel.  

 


Full Text:

PDF

References

Smallmen, R. E. (1999). Metalurgi Fisik Modern & Rekayasa Material. Jakarta : Erlangga.

Movla, Hossein. (2014). Simulation Analysis of The Alumunium Thin Film Thickness Measurement by Using Low Energy Electron Beam. Optik, 125 Hal 71-74. https://doi.org/10.1016/j.ijleo.2013.06.033

Krane, Kenneth. (1982). Fisika Modern. Jakarta : UI Press.

Martinez, Ramon Diaz. 2009. Synthesis of CuAlO2 Thin Films by Pulsed Layer Deposition. Thesis of University of Puerto Rico.

Lalu A. Didik. (2017). Pengukuran Kalor Jenis Material Menggunakan Modifikasi Persamaan Teorema Stefann Boltzman.Konstan, 2 (2), Hal. 47-50

Mariappan, R. (2014). Influence of Film Thickness on The Properties of Sprayed ZnO Thin Films for Gas Sensor Applications. Supperlatices and Microstructure 71 Hal. 238-249. https://doi.org/10.1016/j.spmi.2014.03.029

Senthilarasu, S. (2005). Substrate Temperature Effects on Structural Orientation and Optical Properties of Zinc Phthalocyanine (ZnPc) Thin Films. Material Science and Enginering B 122 Hal. 100-105. DOI: 10.1016/j.mseb.2005.05.005

Abdullah, Mikrajudin dan Khairurrijal. (2009). Review : Karakterisasi Nanomaterial. Jurnal Nanosains dan Nanoteknologi, 2 (1). Hal. 1-9

Barsoum, M. W. 2003. Fundamentals of Ceramics. IOP Publishing.

Lalu A. Didik (2019). Analisa Efek Jahn Teller Terhadap Struktur Kristal Senyawa Delafossite AgCr1-xNixO2. Indonesian Physical Review, 2 (2), Hal. 49-56. DOI: https://doi.org/10.29303/ipr.v2i2.22

Lalu A. Didik (2014). Penentuan Ketebalan Polistiren dan Zinc Phthalocyanine (ZnPc) dengan Modifiksi Persamaan Sauerbrey dan Scanning Electrone Microscope. Natural B, 2 (4), Hal. 331-335. DOI https://doi.org/10.21776/ub.natural-b.2014.002.04.6

Makesh Kumar and Clas Persson (2013). Structural, Electronic and Optical Properties of Silver Delafossite Oxide: First Principal Study with Hybrid Functional Material. Physica B, 422, 20-27. Doi:http://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2013.04.035

Refbacks

  • There are currently no refbacks.